離子遷移測試是指在潮濕條件下，電子整機產(chǎn)品中的基板與電子器件之間或線路之間由于存在線間分布電場，會使處于兩極之聞盼某些金屬離子發(fā)生電場作用下的遷移，即陽離子向處在陰極狀器的部位移動，陰離子會向處于陽極狀態(tài)的部位移動。

  離子在電路聞的這種電遷移有較大危險，輕則引起設(shè)備故障，重則會因引起短路事故而導(dǎo)致火災(zāi)。 為了研究產(chǎn)生離子遷移故障的機理，在實驗室中要模擬離子遷移過程。通常采用的方法有兩種，一種是蒸汽試驗法，這是將被測試片放入盛有過飽和鹽溶液的容器內(nèi)，在高濕度和一定溫度下使試片發(fā)生離子遷移現(xiàn)象，然后通過與鍍片連接的超絕緣電阻器對試片的絕緣性能的變化進(jìn)行測量。

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